UENOSEIKI上野精機(jī)株式會社：半導(dǎo)體設(shè)備自1972年3月創(chuàng)業(yè)以來，一直以半導(dǎo)體制造裝置的開發(fā)、設(shè)計、制造、銷售、維護(hù)為一體的系統(tǒng)，作為支撐半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的個性企業(yè)持續(xù)成長。我們經(jīng)常注意的是，提供“對顧客有魅力的商品”、“讓顧客滿意的服務(wù)”、“讓顧客放心的支持體制”。

并且，活用到現(xiàn)在為止的實(shí)際成果和經(jīng)驗(yàn)，作為更能挑戰(zhàn)的提案型企業(yè)，為了能遵從大家的期待，今后我們也會努力，邁進(jìn)。無論如何，今后也請多多指導(dǎo)和關(guān)照。

UENOSEIKI上野精機(jī)株式會社：半導(dǎo)體設(shè)備

2020年，日本移動通信將進(jìn)入5G時代。通信速度大幅上升，各種各樣的東西與通信網(wǎng)絡(luò)相連的近未來的社會（IoT）即將到來。

與此同時，智能手機(jī)、智能手表、智能玻璃、汽車等我們身邊的產(chǎn)品正在急速進(jìn)化，預(yù)計上野精機(jī)對高品質(zhì)半導(dǎo)體、電子零件檢查裝置的需求將進(jìn)一步提高。

我們以“NEXT ONE～頑強(qiáng)的挑戰(zhàn)～”為口號，向著新時代不斷進(jìn)化。

UENOSEIKI上野精機(jī)株式會社：半導(dǎo)體設(shè)備

UENOSEIKI上野精機(jī)株式會社：半導(dǎo)體設(shè)備

測試激光

標(biāo)記生產(chǎn)性產(chǎn)品尺寸詳細(xì)信息

LT-evo

零件

進(jìn)紙器

管，管

（option）



磁帶&

卷盤



6面檢查



可能的



option



70000

UPH



0.4x0.2mm

~

TO-220



詳細(xì)信息

LT36

零件

進(jìn)紙器

管，管

（option）



磁帶&

卷盤



6面檢查



*多16個同測



option



測試時間

根據(jù)同一測量



0.4x0.2mm

~

TO-220



詳細(xì)信息

LT-Hot

零件

進(jìn)紙器

管，管

（option）



磁帶&

卷軸

Bin



6面檢查



常溫

高溫試驗(yàn)



option



溫度，測試

根據(jù)時間



0.4x0.2mm

~

TO-220



詳細(xì)信息

RT

晶片

6,8,12”



磁帶&

卷盤



6面檢查

（IR option）



option

背面電極

雙面電極



option



30000

UPH



0.4x0.2mm

~

7x7mm



詳細(xì)信息

RT-Tray

晶片

6,8,12”



托盤

（JEDEC）

（Waffle）



6面檢查

（透明體內(nèi)部

也可以檢查）



的下界



的下界



20000

UPH



1x1mm

~

10x10mm



詳細(xì)信息

RT-Wafer

晶片

6,8,12”



晶片

6,8”

托盤

（JEDEC）

（Waffle）



6面檢查

（透明體內(nèi)部

也可以檢查）



的下界



的下界



20000

UPH



0.5×0.5 mm

~

10x10mm



詳細(xì)信息

RS-evo

晶片

6,8,12”



磁帶&

卷盤



6面檢查

（IR option）



option



option



70000

UPH



0.4x0.2mm

~

10x10mm



詳細(xì)信息

RST

晶片

6,8,12”



磁帶和卷軸

（帶寬單點(diǎn)切換option）



6面檢查

（IR option）



option



option



50000

UPH



0.4x0.2mm

~

12×12 mm



詳細(xì)信息

RV-evo

晶片

6,8”



磁帶&

卷盤



6面檢查

（IR option）



的下界



的下界



60000

UPH



0.4x0.2mm

~

7x7mm



詳細(xì)信息

TS-evo

晶片

8,12”



磁帶&

卷盤



6面檢查

（IR option）



option



option



50000

UPH



0.4x0.2mm

~

12×12 mm



詳細(xì)信息

WS-evo

晶片

12,8”



晶片

12,8”



6面檢查

（IR option）



的下界



的下界



24000

UPH



0.4x0.2mm

~

15x15mm



詳細(xì)信息

RP124

晶片

6,8”



晶片

6,8”



6面檢查

（IR option）



電氣測試

在工作空間的邊緣

光學(xué)測試

雙面電極



的下界



24000

UPH



0.4x0.2mm

~

7x7mm



詳細(xì)信息

RV320

晶片

6,8”



磁帶&

卷盤

（正反反轉(zhuǎn)）



6面檢查

（IR option）



電氣測試

在工作空間的邊緣

光學(xué)測試



的下界



24000

UPH



0.4x0.2mm

~

7x7mm



詳細(xì)信息

RHR-evo

晶片

6,8,12”

零件進(jìn)料器打開



磁帶和卷軸

管，管



6面檢查



常溫→高溫→常溫測試



option



24000

UPH



1x1mm

~

8x8mm



詳細(xì)信息

LV-evo

托盤

（Waffle）

※JEDEC option

零件進(jìn)料器打開



托盤

（Waffle）

※JEDEC option



6面檢查



的下界



的下界



36000

UPH



0.4x0.2mm

~

10x10mm



詳細(xì)信息

TR-Tray

托盤

（JEDEC）

（Waffle）



托盤

（JEDEC）

（Waffle）



6面檢查

（IR option）



的下界



option



36000

UPH



1x1mm

~

15x15mm



詳細(xì)信息

TR-Tape

托盤

（JEDEC）

（Waffle）



磁帶&

卷盤



6面檢查

（IR option）



option



option



36000

UPH



1x1mm

~

15x15mm