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膜厚計 (20)

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塔瑪薩崎SANKO日本山高薄膜儀

根據薄膜厚度計的探頭尺寸，有幾種類型。由于導向體是帶磁軛的磁體結構，因此對薄膜厚度計的磁性影響*小，并吸附在鋼結構上。由于提供 45°、90° 和 45° 的斜角表面，因此可以輕松地設置與凸起表面（如肋骨和連接板）的位置關系。
塔瑪薩崎SANKO日本山高薄膜儀探頭

用于 SWT
塔瑪薩崎SANKO日本山高膜厚儀

筆型探頭，筆尖配有極細磁極。現在，您可以測量小零件和狹窄空間。
塔瑪薩崎SANKO日本山高薄膜厚度計

由于磁極位于細長、可伸縮的手柄上，因此可以測量細管（±32mm 或更多）設備的背面、高處和遠處的涂層膜。
塔瑪薩崎SANKO日本山高薄膜厚度計

探頭體積小，適用于測量局部涂層的厚度，如從平面、曲面到圓棒、零件、復雜形狀和內部。
塔瑪薩崎SANKO日本山高薄膜厚度計

用于測量薄膜，如內、下表面和底部，這些薄膜無法進入細管和彎頭中的薄膜。其特點是探頭具有獨特的結構，在小型兩極測量磁極上提供細長的導軌。
塔瑪薩崎SANKO日本山高薄膜厚度計

三級刻度可在一臺儀器中測量，從薄膜到厚膜。特別是厚膜可以測量到15毫米
塔瑪薩崎SANKO日本山高薄膜厚度計

厚度直觀可讀。作為現場的高性能薄膜厚度計，它活躍在許多領域，如政府辦公室、試驗場和企業。作為現場的高性能薄膜厚度計，它活躍在許多領域，如政府辦公室、試驗場和企業。與緊湊型車身相比，我們實現了更大的小型化。（體積比90%）是現場的快樂大小。 0 至 5mm 寬范圍提供從薄膜涂層到襯里的各種應用。特殊磁極探頭 CVD 磁極，具有更高的耐磨性。撥號蓋標準設備防止意外接觸導致調整點偏移。 * 不會防止儀表指針因溫差或使用環境而漂移。
塔瑪薩崎SANKO日本山高薄膜厚度計

傳統的模擬儀表測量厚度直觀可讀。作為現場的高性能薄膜厚度計，它活躍在許多領域，如政府辦公室、試驗場和企業。與緊湊型車身相比，我們實現了更大的小型化。（體積比90%）是現場的快樂大小。 0 至 5mm 寬范圍提供從薄膜涂層到襯里的各種應用。特殊磁極探頭 CVD 磁**有更高的耐磨性。撥號蓋標準設備防止意外接觸導致調整點偏移。 * 不會防止儀表指針因溫差或使用環境而漂移。
塔瑪薩崎SANKO日本山高薄膜厚度計

用于高性能、高精度屏幕工藝的數字薄膜厚度計。探頭的磁極**是平面的，可以用重量加權，可以放置在測量表面上，并自由釋放手，從而獲得完全的恒定壓力接觸。各種篩網、電阻（板膜）、其他彈性涂層和未干燥涂層的測量也具有很高的可重復性。
塔瑪薩崎SANKO日本山高薄膜厚度計

使用日語鍵輕松操作 20，000 個大容量內存校準曲線（基底特性）注冊數量 10 種類型 0 至 2，000μm 范圍，支持從噴漆到襯里的各種應用塊名稱注冊內置打印機的統計功能帶背光大型LCD顯示部新的單點恒定壓力探頭
塔瑪薩崎SANKO日本山高電磁膜厚度計

探頭和主體集成的小型薄膜厚度計。零標準調整也易于設置按鈕操作。大型 LCD 具有背光，便于讀取數字。
塔瑪薩崎SANKO日本山高電磁膜厚度計

測量范圍為 0 至 2.5mm 的寬范圍零標準調整，可立即測量適用油漆 / 襯里 / 電鍍一般油漆
SANKO日本山高膜厚計SM-pen

SANKO日本山高膜厚計SM-penSANKO日本山高膜厚計SM-penSANKO日本山高膜厚計SM-pen
SANKO日本山高膜厚計TL-50

SANKO日本山高膜厚計TL-50 SANKO日本山高膜厚計TL-50 SANKO日本山高膜厚計TL-50
SANKO日本山高膜厚計SL-200E

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