熱門搜索：
代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產(chǎn)品中心
-
CEDAR思達(dá)
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協(xié)和工業(yè)
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽電機(jī)
- SSD西西蒂
- EMIC 愛美克
- TOFCO東富科
-
打印機(jī)
- HORIBA崛場
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機(jī)
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機(jī)
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計(jì)
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計(jì)器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學(xué)
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優(yōu)尼光
-
氙氣閃光燈
-
UV反轉(zhuǎn)曝光系統(tǒng)
-
UV的水處理
-
檢測系統(tǒng)
-
光照射裝置
-
點(diǎn)光源曝光
-
變壓型電源供應(yīng)器
-
超高壓短弧汞燈
-
UV光洗凈
-
UV曝光裝置
-
uv固化裝置
-
紫外可見光光度計(jì)
熱門品牌展示
產(chǎn)品展示
-
杭州HORIBA堀場 納米顆粒追蹤分析儀ANALYSETTE 28 ViewSizer 3000的三個(gè)激光器可同時(shí)工作，可在同一樣品中收集各種尺寸的*準(zhǔn)確的分布和濃度信息。如果某一顆粒來自某一激光的散射光信號太強(qiáng)使檢測器達(dá)到飽和，軟件會(huì)自動(dòng)使用來自較低功率激光器的數(shù)據(jù)來確保獲得*準(zhǔn)確的尺寸和濃度信息。另一方面，當(dāng)來自某一激光的散射光信號太弱而無法檢測時(shí)，軟件會(huì)使用更高功率激光的數(shù)據(jù)來準(zhǔn)確跟蹤顆
-
杭州HORIBA堀場 納米顆粒追蹤分析儀ViewSizer 3000 ViewSizer 3000的三個(gè)激光器可同時(shí)工作，可在同一樣品中收集各種尺寸的*準(zhǔn)確的分布和濃度信息。如果某一顆粒來自某一激光的散射光信號太強(qiáng)使檢測器達(dá)到飽和，軟件會(huì)自動(dòng)使用來自較低功率激光器的數(shù)據(jù)來確保獲得*準(zhǔn)確的尺寸和濃度信息。另一方面，當(dāng)來自某一激光的散射光信號太弱而無法檢測時(shí)，軟件會(huì)使用更高功率激光的數(shù)據(jù)來準(zhǔn)確跟蹤顆粒。
-
浙江區(qū)域供應(yīng)HORIBA崛場半導(dǎo)體激光粒度分析儀HORIBA LA-350 激光粒度分析儀是一款性能高、價(jià)格低、體積小巧的粒徑分析儀器。LA-350廣泛應(yīng)用于漿料、礦物和造紙行業(yè)等多種領(lǐng)域。基于LA系列分析儀的先進(jìn)光學(xué)設(shè)計(jì)，LA-350實(shí)現(xiàn)了高性能、易操作、低維護(hù)和高效益的優(yōu)點(diǎn)。LA-350體積小巧(297 mm x 420 mm)，可以有效節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間。除此之外，LA-350巧妙的設(shè)計(jì)、高質(zhì)量的制造確保儀器操作方便、測量范圍寬 (0.1-1000 μm)和測量結(jié)果準(zhǔn)確。
-
無錫供應(yīng)HORIBA堀場半導(dǎo)體激光粒度分析儀LA-960V2 LA-960V2 秉承 HORIBA 一貫的優(yōu)異設(shè)計(jì)**行業(yè)方向。其直觀的軟件、特有的附件和優(yōu)異的性能將科學(xué)認(rèn)知推向未知世界，是LA系列儀器的突破性演變。
-
總代HORIBA崛場有機(jī)污染物監(jiān)測儀OPSA-150 HORIBA推出采用具有25年以上豐富經(jīng)驗(yàn)的獨(dú)特測量方法---「旋轉(zhuǎn)式單元長度調(diào)整系統(tǒng)」的新型有機(jī)污染物監(jiān)測儀。此裝置可用于以下三個(gè)主要方面：水質(zhì)總量控制中排出口的有機(jī)污染物質(zhì)的監(jiān)測，水源地取水口處的有機(jī)污染物質(zhì)的監(jiān)測，工業(yè)過程中的有機(jī)污染物質(zhì)的監(jiān)測，如酚的監(jiān)測等。
-
無錫有售HORIBA崛場半導(dǎo)體油分分析儀OCMA-550 OCMA-550 用于測量零部件表面的殘油和土壤中粘附的油分。 整個(gè)測量過程十分簡單，只需將待測樣液加入比色皿，然后放置到儀器內(nèi)，即可實(shí)現(xiàn)測量。人性化的簡單設(shè)計(jì)，單手即可操作測量蓋的開/關(guān)。對于可以萃取的油分是*好的測量方法，如評估零部件表面的殘油，測量食物中的油分。
-
昆山供應(yīng)HORIBA崛場 半導(dǎo)體油分分析儀OCMA-500 加入樣液和萃取劑后，只需要按下“ENT”鍵，就可以自動(dòng)完成從萃取到排液的整個(gè)過程。無需開/關(guān)閥門的額外操作，追求測量的快速化。本機(jī)型為彩色LCD顯示屏，提升了電機(jī)攪拌速度，改進(jìn)了萃取罐設(shè)計(jì)增加了背光燈，提高了可操作性。
-
南京供應(yīng)HORIBA崛場在線監(jiān)控橢偏儀UVISEL Plus In-Situ UVISEL Plus在線監(jiān)控橢偏儀可以很容易的安裝在各類反應(yīng)腔（PECVD、MOCVD、磁控濺射、蒸鍍、ALD和MBE），實(shí)時(shí)監(jiān)控薄膜沉積或刻蝕過程。UVISEL Plus在線橢偏儀結(jié)合了速度快、靈敏度高、動(dòng)態(tài)范圍寬和準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)，使其能夠在原子層水平監(jiān)控沉積/刻蝕，即使過程速度比較快也可實(shí)現(xiàn)。
-
浙江供應(yīng)HORIBA崛場真空紫外橢偏儀UVISEL2VUV UVISEL 2 VUV專為VUV 測量設(shè)計(jì)，整個(gè)系統(tǒng)處于真空狀態(tài)，無氧氣吸收。具備高準(zhǔn)確性；超快測量速度；快速樣品室抽真空能力，方便快速更換樣品；氮?dú)庀牧可佟９庾V范圍可覆蓋147-2100nm。UVISEL 2 VUV能夠在充氮?dú)饣虺檎婵漳Ｐ拖鹿ぷ鳌Ｕ麄€(gè)機(jī)械設(shè)計(jì)經(jīng)過優(yōu)化，氮?dú)庀牧康椭?L/min，載樣速度快，2分鐘內(nèi)即可完成。真空樣品倉門朝向操作人員更便于樣品裝載
-
江蘇HORIBA崛場智能型多功能橢偏儀Smart SESmart SE 是一款通用型薄膜測量工具。測試速度快，準(zhǔn)確。它可以表征幾埃到20μm薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)（n, k）以及薄膜結(jié)構(gòu)特性（如粗糙度、光學(xué)梯度及各向異性等）。Smart SE是一款性價(jià)比極高的薄膜研發(fā)工具，以經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的價(jià)格提供了研究級的性能。標(biāo)配一套完整樣品可視化系統(tǒng)，準(zhǔn)確定位分析位置及區(qū)域，7個(gè)不同尺寸的微光斑可用于微區(qū)特征分析。
-
總代HORIBA崛場 橢圓偏振光譜儀UVISEL PLUS 光譜范圍從FUV到NIR：190-2100nm UVISEL Plus橢圓偏振光譜儀為先進(jìn)薄膜、表面和界面表征提供了模塊化和性能的優(yōu)化組合。 UVISEL Plus作為一款高準(zhǔn)確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機(jī)型，它采用了PEM 相位調(diào)制技術(shù)，與機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比， 能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。光譜范圍從190nm到2100nm。
-
國內(nèi)總代HORIBA崛場一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀 Auto SEAuto SE是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動(dòng)完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報(bào)告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。Auto SE全自動(dòng)化設(shè)計(jì)、一鍵式操作，功能齊全。配備自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)進(jìn)行成像分析，自動(dòng)切換微光斑，多種附件可選，以滿足不同的應(yīng)用需求。
-
江蘇區(qū)域供應(yīng)HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100V2納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實(shí)現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運(yùn)行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
-
總代HORIBA納米粒度及電位分析儀粒度儀SZ-100-Z2SZ-100-Z2 納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實(shí)現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運(yùn)行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
-
總代日本HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100-S2 納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實(shí)現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運(yùn)行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
