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  • 產品名稱:量子效率測量系統 QE-2000 / 2100 Otsuka大冢

  • 產品型號:
  • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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簡單介紹:
可以立即測量優良量子效率(優良量子產率)。與粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區的雜散光。此外,通過采用積分半球單元,可以實現明亮的光學系統,并通過利用這一點重新激發熒光校正,可以進行高精度的測量。此外,QE-2100 能夠測量量子效率的溫度依賴性,并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。
詳情介紹:
  • 可即時測量優良量子效率(優良量子產率)
  • 可去除再激發熒光發射
  • 采用積分半球單元,實現明亮的光學系統。
  • 低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區的雜散光
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