測量模式

空氣中接觸AFM；

液體接觸AFM（可選）；

空氣中的半接觸原子力顯微鏡；

液體半接觸原子力顯微鏡（可選）；

真正的非接觸式原子力顯微鏡；

動態力顯微鏡（DFM、FM-AFM）；

耗散力顯微鏡；

Top模式；

相位成像；

側向力顯微鏡（LFM）；

力調制；

導電原子力顯微鏡（可選）；

I-Top模式（可選）；

磁力顯微鏡（MFM）；

開爾文探針（表面電位顯微鏡）；

單通開爾文探頭；

電容顯微鏡（SCM）

電力顯微鏡（EFM）；

單通道MFM/EFM（“平面掃描”）；

力曲線測量；

壓電響應力顯微鏡（PFM）；

PFM Top模式；

納米光刻技術；

納米操縱；

STM（可選）；

光電流成像模式（可選）；

伏安特性測量（可選）；

帶音叉的剪切力顯微鏡（ShFM）；

音叉法向力顯微鏡。

液體測量模式（測試頭HE001）

接觸模式AFM；

半接觸原子力顯微鏡；

Top Mode；

相位成像；

側向力顯微鏡；

力調制；

力曲線測量；

納米蝕刻；

納米操縱。

SmartSPM掃描器和基座

閉環平板掃描器： 100 μm x 100 μm x 20 μm (±10 %)

掃描器非線性：XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪聲水平：XY≤0.1 nm RMS（200 Hz帶寬，電容傳感器打開）；XY≤0.02 nm RMS（100 Hz帶寬，電容傳感器關閉）；Z＜0.1 nm RMS （1000 Hz帶寬，電容傳感器開）

高頻掃描器：XY≥7 kHz; Z≥15 kHz

基座

• 手動樣品定位范圍：25 mm×25 mm
• 電動SPM測量頭定位范圍：1.6 mm×1.6 mm
• 電動趨近量程：1.3 mm
• 標準載玻片和蓋玻片樣品架
• 樣品尺寸（可選）：≥50.8 mm×50.8 mm×5 mm（中心25 mm×25 mm范圍內可以任意區域成像）

AFM測試頭HE001

激光波長：1300nm

激光對生物樣品無影響；

激光對光電測量無影響

系統噪聲：< 0.03 nm

全電動：4步進電機用于懸臂和光電二極管自動對準；

探針通道：為外部操作和探針提供自由通道

頂部和側向同時光路通道：帶平消色差物鏡，可同時10x，NA0.28頂部物鏡和20x，NA0.42側向物鏡

液體電池（可選）

手動樣品定位：15x15mm，定位分辨率1um；

培養皿支架：直徑35mm；

液體體積：1.5-2.5ml；

液體交換：雙管道

導電力AFM（選購）

電流范圍：100fA~10μA;

三檔量程自動切換（1nA, 100nA和10μA）

電壓范圍：-10~ +7V

電流噪聲：≤60fA（1nA量程）

兼容倒置光學顯微鏡：

紅外激光對光學成像無干擾；

可兼容以下顯微鏡：

尼康Ti-E、Ti-U、Ti-S、TE2000；奧林巴斯IX-71，IX-81；

相位反差、DIC和熒光技術（需本征光學聚光器）；

可升級到TRIOS平臺，用于光譜和TERS操作。

光學顯微鏡

數值孔徑：NA 0.1；

放大倍率：從85x到1050x（19英寸監視器，1/3英寸CCD）；

水平視野：4.5～0.37mm；

手動變焦：12.5倍；

粗/精對焦單元：

兼容平顯色差物鏡：10x，NA 0.28和20x，NA 0.42和100x，NA0.7（取決于AFM測試頭）

軟件系統

自動準直系統；

自動配置標準測量技術；

自動調節懸臂梁共振頻率；

能夠處理力曲線；

宏語言Lua，用于編程用戶函數、腳本和小構件；

能用DSP宏語言對控制器進行實時編程，無需重新加載控制軟件；

在坐標空間處理圖像的能力，包括制作橫截面、擬合和高達8級的多項式曲面減法；

FFT處理，具有在頻率空間處理圖像的能力，包括濾波和分析；

納米蝕刻和納米操縱；

高達5000x5000像素圖像的處理能力